2019年12月4日開催　第1回金属観察・表面分析講習会

第1回金属観察・表面分析講習会

日時

令和元年１２月４日（金曜日） 13時30分～17時00分

会場

岡山県工業技術センター 1F 技術交流室 （岡山市北区芳賀5301）

内容

講演 「表面分析装置(XPSとAES)の基礎と活用事例の紹介」

講師：日本電子株式会社 SA事業ユニット SA技術開発2グループ　堤　健一　氏

　　

　 

講演「最新のXPS装置と表面分析応用事例」

講師：アルバック・ファイ株式会社　テクニカルサポート室　眞田 則明　氏

　　

　　

センター所有の金属・表面分析装置の紹介

紹介：岡山県工業技術センター　応用技術部　金属・加工科　國次 真輔　専門研究員

　　

　　

XPSとAES装置の見学

　　　
　　　　　　　　Ｘ線光電子分光装置(XPS)　　　　　　　　　　　　　　オージェ電子分光分析装置(AES)　　　　　　

参加者

４２名